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紅外線熱像儀

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PI 08M 適用於雷射加工行業
目錄:
紅外熱像儀
描述

在 800nm 的光譜範圍內新開發的紅外線熱像儀,optris® PI 08M 可減小因未知變化的輻射率而產生測量的誤差。由於光譜範圍以及從575°C 到1900°C(1067°F到3452°F)的溫度測量範圍,PI 08M 幾乎適用於幾乎所有NIR和CO2 雷射加工應用。